Technical lecture

Dieser Vortrag gibt Ihnen fundierte Einblicke in die zahlreichen Use-Cases der Firma AIT Goehner. Im Fokus stehen die Vorstellung unserer performanten Softwareumgebung sowie der gezielte Einsatz von KI-Methoden zur Defekterkennung auf kritischen Funktionsflächen.
Unsere Lösungen ermöglichen eine prozesssichere Erkennung topografischer Defekte bei minimalem Pseudofehleranteil. Fehlerbilder wie Kratzer, Poren, Schlagstellen, Lunker und weitere Defektarten werden zuverlässig detektiert, analysiert und klassifiziert.
Erfahren Sie, wie sich KI-gestützte Bildverarbeitung in der industriellen Qualitätssicherung praxistauglich und robust einsetzen lässt.